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電子式簡支梁沖擊試驗機：用于測定硬質(zhi)塑料、增強尼龍、玻(bo)璃鋼、陶瓷、鑄石(shi)、塑料電(dian)(dian)器、絕(jue)緣(yuan)材(cai)料等非金屬材(cai)料的(de)抗(kang)沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)強度(du)(du)，分為機(ji)(ji)械(xie)式(shi)（指(zhi)針度(du)(du)盤）和電(dian)(dian)子(zi)式(shi)。電(dian)(dian)子(zi)式(shi)簡支(zhi)梁(liang)沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)試(shi)驗(yan)機(ji)(ji)具有(you)精度(du)(du)高(gao)、穩定性好、測量(liang)(liang)范圍大等特點；電(dian)(dian)子(zi)式(shi)采用圓(yuan)光柵測角技術，除(chu)具有(you)機(ji)(ji)械(xie)式(shi)沖(chong)(chong)的(de)優(you)點外(wai)，還可數(shu)字化(hua)測量(liang)(liang)顯示沖(chong)(chong)斷功、沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)強度(du)(du)、預仰角、升角、一批的(de)平均值，能(neng)量(liang)(liang)損失自動(dong)修(xiu)正；并可存儲(chu)歷史數(shu)據信息。電(dian)(dian)子(zi)式(shi)簡支(zhi)梁(liang)沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)試(shi)驗(yan)機(ji)(ji)系列可供科研機(ji)(ji)構、大專院(yuan)校(xiao)、各(ge)級產(chan)檢所、材(cai)料生產(chan)廠等做簡支(zhi)梁(liang)沖(chong)(chong)擊(ji)(ji)試(shi)驗(yan)用。
產品介紹：
用于測定硬質塑(su)料(liao)、增強尼(ni)龍、玻(bo)璃鋼、陶瓷、鑄石、塑(su)料(liao)電(dian)(dian)器、絕緣材(cai)料(liao)等(deng)(deng)非金(jin)屬材(cai)料(liao)的抗(kang)沖擊強度(du)，分為機(ji)(ji)械式（指(zhi)針度(du)盤）和(he)電(dian)(dian)子(zi)式。電(dian)(dian)子(zi)式簡支(zhi)梁沖擊試(shi)驗(yan)(yan)機(ji)(ji)具有(you)精度(du)高、穩(wen)定性好(hao)、測量范(fan)圍大等(deng)(deng)特點；電(dian)(dian)子(zi)式采用圓光柵測角(jiao)技術，除(chu)具有(you)機(ji)(ji)械式沖的優點外(wai)，還可(ke)數字化測量顯(xian)示沖斷功、沖擊強度(du)、預仰(yang)角(jiao)、升角(jiao)、一(yi)批的平(ping)均值，能量損失自動(dong)修正；并可(ke)存儲(chu)歷史數據信息。電(dian)(dian)子(zi)式簡支(zhi)梁沖擊試(shi)驗(yan)(yan)機(ji)(ji)系列可(ke)供科研機(ji)(ji)構(gou)、大專院校、各級產檢所、材(cai)料(liao)生產廠等(deng)(deng)做簡支(zhi)梁沖擊試(shi)驗(yan)(yan)用。
電子式簡支梁沖擊試驗機系列還(huan)擁有(you)微(wei)控型，采用計算機控制技術(shu)，自動將(jiang)試驗數(shu)據(ju)處理形(xing)成(cheng)打印報告，數(shu)據(ju)可以保(bao)存(cun)在計算機中，隨時進行查(cha)詢(xun)與打印。
電子式簡支梁沖擊試驗機執行標準：
產品滿足ENISO179；GB/T1043、 ISO9854 、GB/T18743、DIN53453標準(zhun)對試(shi)驗設備的要求。
電子式簡支梁沖擊試驗機技術參數：
1、能量(liang)范圍：7.5J，15J，25J，（50J）
2、沖擊速度：3.8m/s
3、鉗(qian)口跨距:40mm 60mm 70mm 95mm
4、預楊(yang)角: 160°
5、外(wai)形尺寸：長500mm×寬350mm×高(gao)780mm
6、重量：110kg（含附件(jian)箱）
7、電源(yuan)：AC220±10V 50HZ
8、工作(zuo)環境：10℃～35℃范圍(wei)內，相對濕度(du)≤80%，周圍(wei)無(wu)振動(dong)，無(wu)腐(fu)蝕性(xing)介質。
簡支(zhi)梁沖擊試(shi)驗機(ji)型號/功能對比：
注：W 微控(kong)型，采用計算機控(kong)制(zhi)，試(shi)驗(yan)數據處(chu)理\存儲,打(da)印(yin)試(shi)驗(yan)報告，隨時進行查詢與打(da)印(yin)。
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